超分辨率顯微鏡系統產品介紹
超分辨率顯微鏡系統N-SIM E
個人用的超分辨率顯微鏡，提供與N-SIM S相同的高分辨率
N-SIM E是一款流線型、價格合理的超分辨率系統，可提供傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。結合N-SIM E和共聚焦顯微鏡，您可以靈活地在共聚焦圖像中選擇一個位置，并輕松切換至超分辨率模式，從而獲得更多細節。
超分辨率顯微鏡系統N-SIM E主要特性
分辨率為傳統光學顯微鏡的2倍
借助尼康創新的結構化照明顯微方法，并與尼康著名的高數值孔徑物鏡（NA值高達1.49）相結合，N-SIM E幾乎可以使傳統光學顯微鏡的空間分辨率提高一倍（達到約115nm *），從而幫助用戶觀察到微小的胞內結構及其相互作用。
具有1秒/幀的高時間分辨率的超分辨成像
N-SIM E為結構化照明技術提供快速的成像性能，約1秒/幀的時間分辨率，對活細胞成像有效。
拍攝更大的視野
N-SIM E可以獲得具有66微米見方的大視野的超分辨率圖像。這個更大的成像區域可以為受益于更大視野的應用/樣本（例如神經元）提供非常高的吞吐量，從而減少獲取數據所需的時間和精力。
采用3D-SIM模式的軸向超分辨率
3D-SIM模式生成三維結構化照明圖案，使橫向和軸向分辨率提高一倍。兩種重建方法（“slice”和“stack”）可用于優化結果，根據應用的要求（例如樣品厚度、速度等）。Slice重建適用于在特定深度成像的活細胞，因為它支持軸向超分辨率成像，具有300nm分辨率的光學切片。基于Gustafsson理論的可選stack重建適用于采集3D數據，因為它能以比slice重建更高的對比度去成像更厚的樣本。
成像模式可在多尺寸實驗之間無縫切換
N-SIM E可以與共聚焦顯微鏡（AX/AX R）相組合。可以在低放大率/大視野共聚焦圖像中指定樣本中的期望位置，并且通過簡單地切換成像方法以獲得超分辨率圖像。將共聚焦顯微鏡與超分辨率系統相結合有利于了解超分辨信息的來龍去脈。
3色多激光超分辨率成像能力
專用于N-SIM E的緊湊型LU-N3-SIM激光臺安裝有三種最常用波長的激光器（488/561/640），可實現多種顏色的超分辨率成像。它能夠在分子水平上研究多種目的蛋白質的動態相互作用。
